Pregled Факултет за физичку хемију po temi "TEM analiza"
Prikaz rezultata 1-1 od 1
-
Nanostrukturna karakterizacija tankih slojeva CrN i Co na podlozi od silicijuma, modifikovanih bombardovanjem jonima / Nanostructural characterization of CrN and Co thin films on silicon substrate, modified by ion bombardment
(Универзитет у Београду, Факултет за физичку хемију, 21-12-2012)