Određivanje Starkovih poluširina spektralnih linija jonizovanog kiseonika i silicijuma, emitovanih iz plazme proizvedene u elektromagnetnoj udarnoj T-cevi
The determination of Stark halfwidths of spectral lines of ionized oxygen and silicon, emitted from plasma produced in an electromagnetically driven shock T-tube.
Doktorand
Gavanski, LazarMentor
Djurović, StevicaČlanovi komisije
Mijatović, ZoranKuraica, Milorad
Savić, Igor
Djurović, Stevica
Metapodaci
Prikaz svih podataka o disertacijiSažetak
Ispitivana je zavisnost brzine fronta udarnih talasa u T-cevi od više parametara. Izvršeno je povezivanje ICCD kamere sa spektrometrom. Ispitane su karakteristike celokupnog sistema i izvršena je njegova optimizacija i kalibracija. Izmerene su Štarkove poluširine 45 spektralnih linija OII, 13 spektralnih linija Si II i 14 spektralnih linija Si III. Dobijene vrednosti su upoređene sa vrednostima koje se mogu naći u literature, kao i sa teorijskim vrednostima. Urađena je detaljna analiza rezultata iz ovog rada kao i svih dostupnih prethodno dobijenih eksperimentalnih podataka.
The dependence of shock front velocity on different parameters was examined. The ICCD camera was mounted on the spectrometer. The characteristics of the whole system were examined and the system was optimized and calibrated. The Stark halfwidths of 45 O II spectral lines, 13 Si II spectral lines and 14 Si III spectral lines were measured. The obtained values were compared with the data available in the literature, as well as with theoretical values. A detailed analysis of both the experimental results given in this dissertation and previously published experimental data was done.
Fakultet:
Универзитет у Новом Саду, Природно-математички факултетDatum odbrane:
10-02-2017Projekti:
- Spektroskopska dijagnostika niskotemperaturne plazme i ganih pražnjenja: oblici spektralnih linija i interakcija sa površinama (RS-MESTD-Basic Research (BR or ON)-171014)