Projektovanje parcijalno visokopouzdanih procesorskih polja

Abstract

U cilju smanjenja uticaja defekta u procesu proizvodnje, a samim tim i povećanja prinosa, u ovom radu predložena je primena metoda za povećanje pouzdanosti dela arhitekture, označenog kao deo od najvećeg značaja za datu primenu. Za razliku od ET koncepta, kod koga je projektant svestan mogućnosti postojanja defekta, zna njegovu poziciju i uticaj, i ne menja svojstva arhitekture kako bi otklonio posledice defekta, kod predložene tehnike parcijalnog povećanja pouzdanosti projektant na sistematski način određuje uticaje defekta na delove arhitekture i određuje koje delove treba projektovati kao visoko pouzdane. Ovakvim kompromisom dveju tehnika uveden je novi stepen slobode kod projektovanja sistema, koji rezultuje arhitekturom parcijalno tolerantnom na defekte.