Show simple item record

dc.contributor.advisorIvaniš, Predrag N.
dc.contributor.otherSmiljanić, Aleksandra
dc.contributor.otherVasić, Bane
dc.contributor.otherSaranovac, Lazar
dc.contributor.otherĐorđević, Goran
dc.creatorBrkić, Srđan
dc.date.accessioned2017-06-01T13:28:35Z
dc.date.available2017-06-01T13:28:35Z
dc.date.available2020-07-03T08:34:34Z
dc.date.issued2017-04-12
dc.identifier.urihttp://nardus.mpn.gov.rs/handle/123456789/8228
dc.identifier.urihttp://eteze.bg.ac.rs/application/showtheses?thesesId=4980
dc.identifier.urihttps://fedorabg.bg.ac.rs/fedora/get/o:15625/bdef:Content/download
dc.identifier.urihttp://vbs.rs/scripts/cobiss?command=DISPLAY&base=70036&RID=48972303
dc.description.abstractSve ve´ca integracija poluprovodniˇckih tehnologija, varijacije nastale usled nesavršenosti procesa proizvodnje, kao zahtevi za smanjenjem napona napajanja cˇine elektronske ured¯aje inherentno nepouzdanim. Agresivno skaliranje napona smanjuje otpornost na šum i dovodi do nepouzdanog rada ured¯aja. Široko je prihvac´ena paradigma prema kojoj se naredne generacije digitalnih elektronskih ured¯aja moraju opremiti logikom za korekciju hardverskih grešaka...sr
dc.description.abstractDue to huge density integration increase, lower supply voltages, and variations in technological process, complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) and emerging nanoelectronic devices are inherently unreliable. Moreover, the demands for energy efficiency require reduction of energy consumption by several orders of magnitude, which can be done only by aggressive supply voltage scaling. Consequently, the signal levels are much lower and closer to the noise level, which reduces the component noise immunity and leads to unreliable behavior. It is widely accepted that future generations of circuits and systems must be designed to deal with unreliable components...en
dc.formatapplication/pdf
dc.languagesr
dc.publisherУниверзитет у Београду, Електротехнички факултетsr
dc.rightsopenAccessen
dc.sourceУниверзитет у Београдуsr
dc.titleDekodovanje kodova sa malom gustinom provera parnosti u prisustvu grešaka u logičkim kolimasr
dc.typedoctoralThesis
dc.rights.licenseBY-NC
dcterms.abstractИваниш, Предраг Н.; Смиљанић, Aлександра; Васић, Бане; Ђорђевић, Горан; Сарановац, Лазар; Бркић, Срђан; Декодовање кодова са малом густином провера парности у присуству грешака у логичким колима; Декодовање кодова са малом густином провера парности у присуству грешака у логичким колима;
dc.identifier.fulltexthttp://nardus.mpn.gov.rs/bitstream/id/5336/Disertacija.pdf
dc.identifier.fulltexthttp://nardus.mpn.gov.rs/bitstream/id/5337/IzvestajKomisije9457.pdf


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record